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首頁-產品展示-分析儀器-質譜儀-Agilent 7900 ICP-MS單四極桿電感耦合等離子體質譜儀

單四極桿電感耦合等離子體質譜儀

產品描述:Agilent 7900 ICP-MS 單四極桿電感耦合等離子體質譜儀可提供基質耐受性、有效的氦碰撞模式、超低的檢測限和寬廣的動態范圍。因此,無論樣品類型如何,您都可以確信始終報告準確的數據,即使在痕量分析中也是如此。

  • 產品型號

    Agilent 7900 ICP-MS
  • 更新時間

    2024-06-12
  • 廠商性質

    經銷商
  • 瀏覽次數

    1070
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詳細介紹

Agilent 7900 ICP-MS 是一款靈活的單四極桿電感耦合等離子體質譜儀,可提供非常出色的基質耐受性、有效的氦碰撞模式、超低的檢測限和寬廣的動態范圍。因此,無論樣品類型如何,您都可以確信始終報告準確的數據,即使在痕量分析中也是如此。

7900 ICP-MS 為要求苛刻的商業和工業應用提供了理想的性能,靈敏度高且能夠快速采集瞬時信號,可滿足單納米顆粒 (spICP-MS)、單細胞分析和激光剝蝕的要求。此外,其具有研究和高級分析(例如形態分析)所需的靈活性,讓您能夠在競爭中脫穎而出。


儀器特性:

超穩定的(低 CeO/Ce)等離子體可提供出色的基質耐受能力。

超高基質進樣系統 (UHMI) 使您能夠運行總溶解固體量 (TDS) 高達 25% 的樣品。

氦 (He) 池氣體模式能夠可靠地控制多原子干擾,從而改善準確度。

離軸透鏡可在整個質量范圍內提供高靈敏度和低檢測限。

寬動態范圍檢測器使您可以在同一次樣品運行中分析常量和痕量元素。

快速積分(駐留時間 0.1 ms)支持分析快速瞬態信號,例如單納米顆粒 (spICP-MS)。

ICP-MS MassHunter 方法向導可幫助您自動構建方法。

配置靈活,可輕松連接至可選附件和外圍設備,適用于高級應用。


工作原理:


什么是電感耦合等離子體質譜 (ICP-MS)?

ICP-MS 是一種用于測量金屬和其他元素濃度的分析技術。樣品通常以液體形式引入,但 ICP-MS 也可用于測定固體材料以及氣體中的元素濃度。ICP-MS 由高溫離子源(等離子體)、質譜儀(通常是四極桿質量過濾器)和檢測器組成。等離子體處于大氣壓下,質譜儀和檢測器位于真空室中,因此 ICP-MS 還需要一個接口和離子透鏡傳遞離子通過系統。


電感耦合等離子體質譜 (ICP-MS) 的原理是什么?

將液體樣品泵入霧化器形成氣溶膠,再隨氣流進入等離子體。等離子體是一種高溫電火花,可蒸發樣品材料,然后使元素原子化和離子化。離子通過一個接口進入真空室,再通過離子透鏡和碰撞/反應池 (CRC) 與光子、中性粒子、干擾離子分離。分析物離子由四極桿質量過濾器分選,每個質量都被傳遞到檢測器進行計數。


電感耦合等離子體質譜 (ICP-MS) 的用途是什么?

ICP-MS 用于從食品安全、環境監測及藥物檢測到半導體制造、地球化學分析和生命科學研究領域等幾乎所有行業的多元素分析。ICP-MS 測定每個樣品約需要 3 分鐘,因此在高通量實驗室中尤為有用。ICP-MS 幾乎可以定量從 ppt 級到百分級濃度的每種元素(并測定其同位素組成),還可以連接到色譜系統進行形態分析。


Agilent 7900 ICP-MS 單四極桿電感耦合等離子體質譜儀應用:


1、使用 HPLC-ICP-MS 進行一體化多元素形態分析

Agilent 7900 ICP-MS 可提供要求的應用所需的靈活性。針對安捷倫液相色譜系統提供全面的連接支持和集中的軟件控制,能夠實現常規以及高性能的形態分析。同時還支持其他色譜分離(例如 GC、CE 和 FFF)。

HPLC-ICP-MS 高級功能包括自動切換色譜柱和流動相,能夠在一次無人值守運行序列中分析多種 HPLC-ICP-MS 方法。


2、單納米顆粒 (sNP) 分析的高靈敏度和快速信號采集

在激光剝蝕 (LA) ICP-MS 成像應用中,高靈敏度是檢測極小納米顆粒 (NP) 的重要因素,也是獲得理想空間分辨率的關鍵。

7900 在整個質量數范圍內具有出色的靈敏度,結合優化的 0.1 ms 駐留時間,可實現快速時間分辨分析 (TRA) 采集。將高靈敏度與 ICP-MS 高穩定性等離子體以及寬動態范圍檢測器相結合,可輕松實現常量元素分析。


3、利用靈活的配置和較高的性能輕松應對 ICP-MS 高級應用

7900 可提供要求的應用所需的靈活性。利用 ORS4 碰撞/反應池有效控制干擾,并結合高效的冷等離子體,實現高純度加工化學品的超痕量分析。可選的樣品引入工具包能夠實現有機溶劑和腐蝕性樣品(例如 HF)的常規分析。

易于連接至第三方外圍設備(例如激光剝蝕 (LA-ICP-MS)),從而實現固體的直接、高靈敏度分析。

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